筛选条件
重置所有
PCB测试用 标准型·最小安装中心距18mil/0.46mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距20mil/0.55mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距25.0mil/0.65mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距30mil/0.76mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距35mil/0.9mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距40mil/1.0mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距50mil/1.27mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距75mil/1.91mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距100mil/2.54mm
ICT测试用 标准型·最小安装中心距50mil/1.27mm·最大行程6.4mm
ICT测试用 标准型·最小安装中心距50mil/1.27mm·最大行程6.35mm
ICT测试用 标准型·最小安装中心距75mil/1.91mm·最大行程6.35mm
ICT测试用 标准型·最小安装中心距75mil/1.91mm·最大行程3.65mm
ICT测试用 标准型·最小安装中心距100mil/2.54mm·最大行程6.4mm
ICT测试用 标准型·最小安装中心距100mil/2.54mm·最大行程6.35mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距125mil/3.18mm·最大行程6.35mm
PCB测试用 标准型·最小安装中心距156mil/3.96mm·最大行程6.35m
双头探针 IC测试用 20系列·最小安装中心距11.8mil/0.3mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 26系列·最小安装中心距13.7mil/0.35mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 26系列·最小安装中心距13.7mil/0.35mm·最大行程0.8mm
双头探针 IC测试用 28系列·最小安装中心距15.7mil/0.4mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 28系列·最小安装中心距15.7mil/0.4mm·最大行程1.0mm
双头探针 IC测试用 30系列·最小安装中心距15.7mil/0.4mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 30系列·最小安装中心距15.7mil/0.4mm·最大行程1.0mm
双头探针 IC测试用 35系列·最小安装中心距17.7MIL0.45MM·最大行程1.3MM
双头探针 IC测试用 38系列·最小安装中心距19.7mil/0.5mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 45系列·最小安装中心距23.6mil/0.6mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 51系列·最小安装中心距25.6MIL/0.65mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 58系列·最小安装中心距27.6mil/0.7mm·最大行程1.1mm
双头探针 IC测试用 85系列·最小安装中心距40mil/1.0mm·最大行程1.1mm
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